La microscopia ó ptica de campo cercano (SNOM Scanning Near Field Optical Microscopy ) constituye una herramienta poderosa para obtener im á genes ó pticas en la nanoescala, detectar campos electromagn é ticos confinados y realizar espectroscopia local de superficies, abriendo el camino hacia la detecci ó n de una ú nica mol é cula [1,2 ]. Cualquiera sea la aplicaci ó n el principio de dicha microscopia esta basada en la interacci ó n del campo electromagn é tico con estructuras nanom é tricas, por lo que resulta indispensable el c á lculo riguroso de dicha interacci ó n para la correcta interpretaci ó n de los efectos observados. En este trabajo realizamos un estudio sistem á tico de los factores que controlan esta interacci ó n utilizando aproximaciones de elementos finitos [3,4,5,6 ] para resolver las ecuaciones de Maxwell y determinar en forma expl í cita los campos electromagn é ticos locales generados al iluminar nanoestructuras met á licas a diferentes longitudes de onda. Los c á lculos fueron efectuados para nanoestructuras de metales nobles ( Ag , Au ), con diferentes formas y tama ñ os, permitiendo identificar aquellas que produzcan una m á xima amplificaci ó n del campo cercano, y reconstruir las im á genes ó pticas producidas por esta interacci ó n [7 ]. Las simulaciones fueron comparadas con recientes resultados experimentales. Estos resultados son relevantes para el dise ñ o inteligente de sustratos en espectroscopias incrementadas (SERS Surface Enhanced Raman Spectroscopy , MEF Metal Enhanced Fluorescence) y para la interpretaci ó n de im á genes en SNOM.